در کنار روشهای الکتروشیمیایی مانند طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی (EIS) و طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS)، روش موت – شاتکی می تواند اطلاعات مفیدی را درباره رفتار نیمه هادی لایه های رویین ارایه دهد. این روش ما را قادر می سازد تا خواصی نیمه هادی لایه ها را مانند نوع نیمه هادی (نوع-n و یا نوع – P) و همچنین چگالی عیوب، که بسیار به ساختار و ترکیب شیمیایی لایه حساسی است، را تعیین کنیم. همچنین یکی از مهمترین مزیتهای این روش، استفاده از آن به صورت درجا است که باعث می شود تا تغییرات مختلف به وجود آمده در خواص الکترونی لایه های رویین به طور کامل ثبت شود. براي رفتار نوع-n ،شيب به طور معکوس با چگالي دهنده هاي الکترون متناسب است. براي رفتار نوع-p ،شيب به طور معکــوس با چگالـــي گيــرنــده هـــاي الــکتـــرون متناسب است.
در فایل زیر در قالب پاورپوینت به طور کامل به بررسی اصول، مبانی و کاربردهای آزمون موت-شاتکی (mott-schottky) پرداخته شده است. سر فصل عناوین ذکر شده در این فایل عبارتند از:
*فصل مشترک و لایه دوگانه
*لایه دوگانه الکتریکی
*خازن های لایه دوگانه
*بررسی لایه بار فضایی
*ظرفیت خازنی لایه بار فضایی
*تعیین ظرفیت خازنی لایه بار فضایی (لایه انباشته)
*تعیین ظرفیت خازنی لایه بار فضایی (لایه تخلیه)
*تعیین ظرفیت خازنی لایه بار فضایی (لایه وارون)
*تعیین ظرفیت خازنی لایه بار فضایی (لایه عمیقا تخلیه شده)
*معادلات موت-شاتکی
*آزمون موت-شاتکی
*منحنی های موت-شاتکی
*تجزیه و تحلیل منحنی های موت-شاتکی
*تحقیقات بر روی رفتار الکترونی لایه های رویین
*نتیجه گیری
جهت خرید این فایل با ایمیل مدیر وبسایت تماس گرفته و یا از قسمت زیر اقدام فرمایید.
ممکن است در پرداخت آنلاین با خطا مواجه شوید. چنانچه امکان پرداخت آنلاین فراهم نشد می توانید با ارسال پیام به شماره 09132050479 برای خرید این مطلب اقدام نمایید.
برای دانلود تنظیمات نرم افزار نوا (NOVA) جهت استخراج داده های موت شاتکی و تحلیل داده های آن اینجا کلیک نمایید.
تذکر: هرگونه انتشار این مطلب در فضای مجازی پیگرد قانونی دارد
نرم‌افزار Ivium توانایی انجام انواع آزمایش‌های خوردگی الکتروشیمیایی از جمله آزمون پلاریزاسیون تافل، پلاریزاسیون خطی، پلاریزاسیون پتانسیودینامیک، پلاریزاسیون چرخه‌ای، پتانسیل مدار باز، آزمون موت- شاتکی و طیف‌سنجی امپدانس الکتروشیمیایی را دارد.
در ادامه فایل آموزش روش کار با این نرم افزار جهت تحلیل آزمون های امپدانس و پلاریزاسیون به زبان فارسی و به صورت گام به گام و همراه با تصاویر آمده است. جهت دریافت این نرم افزار از لینک زیر اقدام به خرید فرمایید. لازم به ذکر است که فایلنرم افزار Ivium نیز در این سایت موجود می باشد. برای دریافت فایل نرم افزار اینجا کلیک کنید.
ممکن است در پرداخت آنلاین با خطا مواجه شوید. چنانچه امکان پرداخت آنلاین فراهم نشد می توانید با ارسال پیام به شماره 09132050479 برای خرید این مطلب اقدام نمایید.
تذکر: هرگونه انتشار این مطلب در فضای مجازی پیگرد قانونی دارد
دانشجویان و فارغ التحصیلان محترم رشته خوردگی و حفاظت از مواد و همچنین کسانی که پایان نامه، پاورپوینت، جزوه، کتاب، ترجمه ی مقاله یا هر مطلب قابل فروش دیگر مرتبط با موضوع خوردگی دارند می توانند جهت فروش فایل های خود از قسمت ارتباط با ما با مدیریت وبسایت تخصصی خوردگیتماس حاصل فرمایند.
روابط کرامرز- کرونیگ می تواند جهت ارزیابی کیفیت داده های آزمون امپدانس الکتروشیمیایی قرار گیرد. اساس کار این روش آن است که طی آن قسمت حقیقی طیف می تواند با ادغام قسمت موهومی به دست آید و بالعکس.
روابط k-k برای داده های EIS که خطی، علّی ، پایدار و محدود هستند همواره صحیح خواهد بود.
در این فایل به بررسی اصول و مبانی انتقال کرامرز کرونیگ پرداخته شده است (به زبان فارسی) و در ادامه روش کاملا عملی استخراج داده های انتقال یافته به این روش همراه با عکس از هر مرحله نشان داده شده است.
با مطالعه ی این فایل امکان تایید و تحلیل نتایج آزمون امپدانس به روش کرامرز کرونیگ به صورت کاملا تضمین شده فراهم است.
جهت خرید این فایل با ایمیل مدیر وبسایت تماس گرفته و یا از قسمت زیر اقدام فرمایید.
ممکن است در پرداخت آنلاین با خطا مواجه شوید. چنانچه امکان پرداخت آنلاین فراهم نشد می توانید با ارسال پیام به شماره 09132050479 برای خرید این مطلب اقدام نمایید.
